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紫外可見分光光度計是實驗室普及率最高的一類光譜儀器。由于靈敏度高、選擇性好、準確度高、適用濃度范圍廣，最重要是分析成本低、操作簡便、快速。因此，長期在分析領域扮演很重要的角色。

01

紫外可見分(fen)光(guang)光(guang)度計原(yuan)理結(jie)構圖

在紫外可見分(fen)光(guang)光(guang)度計(ji)中(zhong)，常用光(guang)源分(fen)兩類，熱輻射光(guang)源和氣體(ti)放電光(guang)源。

熱輻射光源用于可見光區，如鎢燈和(he)鹵(lu)鎢燈；氣體(ti)放(fang)電光源用于紫外(wai)光驅(qu)，如氫燈和(he)氘燈

02

常用光源(yuan)：氘燈、鎢燈壽命

元(yuan)析儀(yi)器采用(yong)進口“長(chang)壽”型燈(deng)(deng)源，氘燈(deng)(deng)可達2000小時，鎢燈(deng)(deng)3000小時。

一般儀器在開機初始(shi)化(hua)時氘燈和鎢燈均點亮。隨即可以根(gen)據程序(xu)控制來關(guan)(guan)閉(bi)不使(shi)(shi)用(yong)的那(nei)只光源。例如測試紫外區時則可關(guan)(guan)閉(bi)鎢燈；反之(zhi)關(guan)(guan)閉(bi)氘燈。這樣就延(yan)長了那(nei)只不使(shi)(shi)用(yong)的光源燈的壽命，同時還可以減(jian)少不必要的光譜或光噪聲的干擾，可謂一舉兩得。至于光源燈的壽命這是(shi)一個老話題了，其中的因(yin)素太多了，如：使(shi)(shi)用(yong)次(ci)數、開啟關(guan)(guan)閉(bi)頻率(lv)（尤其對氘燈而(er)言(yan)）、環境溫度(du)、燈的質量、外電(dian)(dian)網電(dian)(dian)壓的穩定程度(du)、供電(dian)(dian)電(dian)(dian)路的穩定度(du)、使(shi)(shi)用(yong)間隔(ge)等(deng)等(deng)。

03

紫外可(ke)見(jian)分光(guang)光(guang)度計常見(jian)故障的排(pai)除

一．光源部分：

（1）故障：氘燈不亮；

原(yuan)因：氘燈壽命到期（此種(zhong)原(yuan)因幾率最高(gao)）；

檢查(cha)：燈絲(si)電壓、陽極電壓均有，燈絲(si)也可能未斷（可看到燈絲(si)發紅）；

處置：更換氘燈。

（2）故障：鎢燈不亮；

原(yuan)因：鎢(wu)燈(deng)燈(deng)絲(si)燒斷(duan)（此種(zhong)原(yuan)因幾(ji)率最高(gao)）；

檢查：鎢(wu)燈(deng)兩端(duan)有工作電壓，但燈(deng)不亮；取下鎢(wu)燈(deng)用萬用表電阻(zu)檔檢測；

處(chu)置：更換(huan)新鎢燈；

（3）故障：鎢燈不亮；

原因：沒有點(dian)燈電壓；

檢查(cha)：保險絲被熔斷；

處置：更(geng)換保(bao)險(xian)絲（如更(geng)換后再次燒斷(duan)則(ze)要檢查供電(dian)電(dian)路(lu)）；

（4）故障：氘燈不亮；

原因(yin)：氘燈(deng)起(qi)輝(hui)電路故障；

檢查(cha)：氘燈(deng)在(zai)起(qi)(qi)輝(hui)的過(guo)程中，一般是(shi)燈(deng)絲先要預熱數秒鐘，然(ran)后燈(deng)的陽極與陰極間才可(ke)起(qi)(qi)輝(hui)放電，如(ru)果燈(deng)在(zai)起(qi)(qi)輝(hui)的開始瞬間燈(deng)內閃動一下或連續閃動，并且更換(huan)新的氘燈(deng)后依然(ran)如(ru)此，有可(ke)能(neng)是(shi)起(qi)(qi)輝(hui)電路有故障，燈(deng)電流調整用(yong)的大功(gong)率(lv)晶體管損(sun)壞的幾率(lv)最大。

處置：需要專(zhuan)業人(ren)士修理；

二(er)．信號部分(fen)：

（1）故(gu)障：吸光值結(jie)果出現負值（最常見(jian)）；

原(yuan)因：沒(mei)做(zuo)空(kong)白(bai)(bai)記憶、樣品的吸光值(zhi)小于空(kong)白(bai)(bai)參比(bi)液；

檢查(cha)：將參比液(ye)與樣(yang)品液(ye)調(diao)換位置便知(zhi)；

處(chu)置：做空白記(ji)憶(yi)、調換參比液或用(yong)參比液配置樣(yang)品溶液；

（2）故障：樣品室內(nei)無任何物品的情況(kuang)下，全波長(chang)范(fan)圍(wei)內(nei)基線噪聲大(da)；

原因：光源鏡位置不正(zheng)確、石英窗(chuang)表面被濺射上樣品；

檢(jian)查：觀察光源是否照射(she)到入射(she)狹縫的中央，石(shi)英(ying)窗上有(you)無污(wu)染物；

處置(zhi)：重新調整光源鏡的位置(zhi)，用乙醇(chun)清洗石英(ying)窗；

（3）故障：信號(hao)的分辨率不夠，具體表(biao)現是(shi)：本應疊加在某(mou)一大峰上的小(xiao)峰無(wu)法(fa)觀察到(dao)；

原(yuan)因：狹(xia)縫設置過窄而(er)掃描速(su)度(du)(du)過快，造(zao)成檢測(ce)器響(xiang)應速(su)度(du)(du)跟不(bu)上，從而(er)失去應測(ce)到的信號；按常理，一定(ding)的狹(xia)縫寬度(du)(du)要對應一定(ding)范(fan)圍的掃描速(su)度(du)(du)；或者狹(xia)縫設置得(de)過寬，使儀器的分辨率(lv)下降，將小峰融合在大峰里(li)了。

檢查：放慢掃描速度看一看或將(jiang)狹縫設(she)窄；

處置：將掃描(miao)速度(du)、狹縫(feng)寬窄、時間常(chang)數三者(zhe)擬(ni)合成一個最優化的條(tiao)件(jian)；

（4）故障：樣品室內無任何物品的情(qing)況下(xia)，僅僅是紫(zi)外(wai)區的基(ji)線(xian)噪聲(sheng)大；

原因(yin)：氘燈老(lao)化、光(guang)學系統的(de)反(fan)光(guang)鏡表面劣(lie)化、濾光(guang)片出現結晶物；

檢查：可(ke)見區的(de)基線(xian)較為平坦，斷(duan)電后打開儀(yi)器的(de)單色器及上蓋，肉眼可(ke)以觀察到光(guang)柵、反(fan)光(guang)鏡表面(mian)有(you)一層(ceng)白色霧狀物覆蓋在上面(mian)；如果光(guang)學系統(tong)正常(chang)，最大的(de)可(ke)能是氘(dao)燈老化，可(ke)以通過能量檢查或更(geng)換新燈方法(fa)加(jia)以判(pan)斷(duan)；

處置：更換氘(dao)燈、用(yong)火棉膠粘取鏡面上的污物或用(yong)研磨膏(gao)研磨濾(lv)光片（注意：此種技巧(qiao)需要有(you)一定維修經驗者來實施）；

（5）故障：樣品(pin)出峰位置不對(dui)；

原因：波長(chang)傳(chuan)動機構產(chan)生位移；

檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線(xian)來(lai)判斷波長(chang)是否準確；

處置：對(dui)于高檔(dang)儀(yi)(yi)器(qi)而言處理手(shou)段相(xiang)對(dui)簡單，使用儀(yi)(yi)器(qi)固有的自(zi)動校(xiao)正功能即可；而對(dui)于相(xiang)對(dui)簡單的儀(yi)(yi)器(qi)，這種(zhong)調整則需(xu)要專(zhuan)業人員來(lai)進(jin)行了；

處置(zhi)：清洗比(bi)色皿，更(geng)換空(kong)白溶(rong)液(ye)；

（6）故(gu)障：樣品信號重現性不(bu)良；

原因：排除儀(yi)器本身的原因外，最大的可能是樣(yang)品溶液(ye)不均勻所致；在(zai)簡易的單光束(shu)儀(yi)器中，樣(yang)品池架一般(ban)為推拉式(shi)的，有時重復推拉不在(zai)同一個位置(zhi)上；

檢查：更換一種穩定(ding)的試樣(yang)判定(ding)；

處置(zhi)：采取正確的試(shi)樣配置(zhi)手段(duan)；修理推(tui)拉(la)式(shi)樣品架的定位碰珠；

（7）故障(zhang)：做(zuo)基(ji)線(xian)(xian)掃描(miao)或(huo)(huo)樣品(pin)掃描(miao)時，基(ji)線(xian)(xian)或(huo)(huo)信號有一個大的負(fu)脈沖；

原因：掃描速度設置得過快，信號(hao)在(zai)讀取時(shi)，誤將濾光(guang)片或光(guang)源鏡的(de)切換當做信號(hao)讀取了；

（8）故障：沒有(you)任何檢測信號(hao)輸出(chu)；

原因(yin)：沒有任何光束照射到樣品(pin)室內；

檢查：將波長設定為530nm，狹縫盡(jin)量開到最(zui)寬檔位，在黑暗的環境下用一張白(bai)紙(zhi)放(fang)在樣(yang)品室光(guang)窗(chuang)出口處，觀察白(bai)紙(zhi)上有(you)無綠光(guang)斑影像；

處置(zhi)：檢查光源鏡是(shi)否(fou)轉到位(wei)，雙光束儀(yi)器(qi)的(de)(de)切光電(dian)(dian)機是(shi)否(fou)轉動(dong)了（耳朵可以聽(ting)見電(dian)(dian)機轉動(dong)的(de)(de)聲音）；

檢(jian)查：改變(bian)掃描速度；

（9）故障：做基線掃(sao)描或(huo)樣品掃(sao)描時，基線或(huo)信號有一個長時間段的(de)負值(zhi)或(huo)滿(man)屏大噪聲；

原因：濾(lv)光片伺服電(dian)機“失步”，造成檔位錯(cuo)位，國產電(dian)機尤甚；

檢(jian)查：重新(xin)開機有可能恢(hui)復(fu)，或打(da)開單(dan)(dan)色(se)(se)器(qi)(qi)對照波長與濾光(guang)(guang)片的相對位置來(lai)檢(jian)查（注意(yi)：打(da)開單(dan)(dan)色(se)(se)器(qi)(qi)時(shi)要保護檢(jian)測器(qi)(qi)不被強(qiang)光(guang)(guang)刺激(ji)）；

（10）故障：當(dang)儀(yi)器波(bo)長(chang)固定在某個波(bo)長(chang)下時(shi)，吸光值(zhi)信號上(shang)下擺動(dong)，特別是測量模(mo)式(shi)(shi)轉(zhuan)換(huan)為按鍵開關式(shi)(shi)的(de)簡(jian)易儀(yi)器；

原因：開關觸(chu)點(dian)因長期(qi)氧化所致(zhi)造成接觸(chu)不(bu)良；

檢(jian)查：用手加(jia)重力(li)量(liang)按琴(qin)鍵時，吸(xi)光值隨之變化；

處置：用金屬(shu)活化劑清洗按(an)鍵觸(chu)點即可；

（11）故障：樣(yang)品(pin)室放入空白后(hou)做基線記憶，噪聲較大，紫外區尤甚；

原(yuan)因：比色(se)皿表面或內壁被污染、使用了(le)玻璃(li)比色(se)皿或空白樣(yang)品(pin)對紫外光譜的吸收(shou)太強(qiang)烈，使放大器(qi)超出了(le)校正范圍；

檢查：將波長設定(ding)為250nm，先(xian)在(zai)不(bu)放任何物品(pin)的狀態下調零，然后將空(kong)比(bi)色(se)皿插入(ru)樣(yang)品(pin)道(dao)一側，此時吸光值應小于0.07Abs；如果大于此值，有可能是比(bi)色(se)皿不(bu)干凈或使(shi)用了玻璃比(bi)色(se)皿；同樣(yang)方法也(ye)可判斷(duan)空(kong)白(bai)溶液的吸光值大小；

處置：更換(huan)伺服電機；

（12）故障(zhang)：儀(yi)(yi)器(qi)零點(dian)飄忽不定，主(zhu)要反映在簡易(yi)儀(yi)(yi)器(qi)上；

原因：在簡(jian)易(yi)儀器(qi)中，零點往(wang)往(wang)是通過電(dian)位(wei)器(qi)來調整，這種電(dian)位(wei)器(qi)一般是炭(tan)膜電(dian)阻制作的，使(shi)用(yong)久了往(wang)往(wang)造(zao)成接觸(chu)不良(liang)；

處置(zhi)：更(geng)換電位(wei)器；

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